Reto Glaus

Nokia Siemens Networks Schweiz AG, in Zürich, CH-020.3.030.233-0, Aktiengesellschaft (SHAB Nr. 173 vom 08.09.2008, S. 23, Publ. 4641072).

Ausgeschiedene Personen und erloschene Unterschriften:
Glaus, Reto, von Benken SG, in Benken SG, mit Kollektivprokura zu zweien;
Pennanen, Juha, finnischer Staatsangehöriger, in Zürich, mit Kollektivunterschrift zu zweien.

Siemens Networks AG, in Zürich, CH-020.3.030.233-0, Elektro- und Kommunikationstechnik, Aktiengesellschaft (SHAB Nr. 191 vom 03.10.2006, S. 18, Publ. 3574606).

Eingetragene Personen neu oder mutierend:
Kleinhagauer, Michael, österreichischer Staatsangehöriger, in Ittigen, Direktor, mit Kollektivunterschrift zu zweien;
Lindemann, Dirk, deutscher Staatsangehöriger, in Neftenbach, Direktor, mit Kollektivunterschrift zu zweien;
Baumeler, Franz Josef, von Malters, in Bösingen, Vize-Direktor, mit Kollektivunterschrift zu zweien;
Schaffer, Jean Antoine, von Stettlen, in Pully, Vize-Direktor, mit Kollektivunterschrift zu zweien;
Beck, Alexander Peter, liechtensteinischer Staatsangehöriger, in Wallisellen, mit Kollektivprokura zu zweien;
Bringold, Mark, von St. Stephan, in Bern, mit Kollektivprokura zu zweien;
Genoud, Jacques Bernard Henri, von Châtel-Saint-Denis, in Châtel-Saint-Denis, mit Kollektivprokura zu zweien;
Glaus, Reto, von Benken SG, in Benken SG, mit Kollektivprokura zu zweien;
Grewe, Jürgen, deutscher Staatsangehöriger, in Kirchenthurnen, mit Kollektivprokura zu zweien;
Haag, Thomas Ralf, deutscher Staatsangehöriger, in Zürich, mit Kollektivprokura zu zweien;
Haase, Jörg Dieter, deutscher Staatsangehöriger, in Zürich, mit Kollektivprokura zu zweien;
Kis, Juraj, von Illnau-Effretikon, in Winterthur, mit Kollektivprokura zu zweien;
Rhyner, Hansjürg, von Elm, in Mühlethurnen, mit Kollektivprokura zu zweien;
Suter, Alex, von Frenkendorf, in Möhlin, mit Kollektivprokura zu zweien;
Weigerstorfer, Michael Eugen Alfred, von Zollikon, in Zürich, mit Kollektivprokura zu zweien;
Westermann, Michael, von Tafers, in Köniz, mit Kollektivprokura zu zweien.